Abstract

PEREZ, Daniel O  and  VELIS, Danilo R. Atributos AVO/AVA de alta resolución utilizando very fast simulated anneling. Geoacta [online]. 2012, vol.37, n.1, pp.16-36. ISSN 1852-7744.

En este trabajo presentamos un nuevo método de inversión para obtener atributos AVO/AVA de tipo sparse-spike a partir de datos sísmicos prestack. El método propuesto apunta a obtener el menor número de reflectores que, convolucionados con la ondícula, ajustan al dato. Este método es una extensión, aplicada a datos prestack, de un trabajo anterior sobre deconvolución sparse-spike aplicado a datos poststack. Debido a la alta no linealidad del problema inverso, que incluye la determinación en tiempo de un número dado de reflectores, se busca la solución usando el algoritmo de optimización global conocido como Very Fast Simulated Annealing (VFSA). Contrariamente a otros métodos que también buscan soluciones de tipo sparse, y donde el número de incógnitas coincide con el número de muestras del dato sísmico, en la estrategia propuesta el número de incógnitas es mucho menor. Como consecuencia, las matrices a invertir son pequeñas y el proceso de inversión resulta relativamente económico en términos de costo computacional, aún cuando la inversión se realiza utilizando simulated annealing. La técnica permite, además, determinar incógnitas adicionales como por ejemplo una rotación de fase de la ondícula (para su calibración a partir de la estimación inicial) o su frecuencia central (para compensar efectos de atenuación). Una ventaja de utilizar VFSA es que la incertidumbre de las soluciones puede ser estimada estocásticamente, aprovechando el gran número de soluciones que se ponen a prueba durante el proceso de inversión. Los atributos AVO/AVA de alta resolución que se obtienen luego de la inversión incluyen el Intercept y el Gradient, o sea los coeficientes de la aproximación de Shuey de dos términos de las ecuaciones de Zoeppritz, las que son utilizadas para modelar la variación con el ángulo de incidencia del coeficiente de reflexión. No obstante, la incorporación de otras aproximaciones es inmediata. Los resultados obtenidos utilizando datos sintéticos 1D y 2D muestran que la metodología propuesta es robusta en presencia de ruido aleatorio, incluso cuando el número de reflectores es desconocido a priori y la ondícula utilizada no es exacta. También se observa la capacidad del método para resolver reflectores cercanos y conservar la continuidad lateral de los mismos. Sobre datos de campo el método propuesto mostró buen comportamiento, permitiendo hallar soluciones de alta resolución que honran al dato observado.

Keywords : Atributos AVO; Sparse-spike; Simulated annealing; Alta resolución; Shuey.

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